山西實(shí)時(shí)成像平板探測(cè)器

直接式平板探測(cè)器主要由集電矩陣、硒層、電介層、頂層電極和保護(hù)層等構(gòu)成。集電矩陣由按陣元方式排列的薄膜晶體管(TFT)組成。非晶硒半導(dǎo)體材料在薄膜晶體管陣列上方通過(guò)真空蒸鍍生成約、38mm×45mm見(jiàn)方的薄膜，它對(duì)X線很敏感，并有很高的圖像解析能力。頂層電極接高壓電源，當(dāng)有X線入射時(shí)，由于高壓電源在非晶硒表面形成的電場(chǎng)，它們只能沿電場(chǎng)方向垂直穿過(guò)絕緣層、X射線半導(dǎo)體、電子封閉層，到達(dá)非晶硒，不會(huì)出現(xiàn)橫向偏離從而出現(xiàn)光的散射。平板探測(cè)器在安檢領(lǐng)域的應(yīng)用包括公共場(chǎng)所安檢、車輛集裝箱檢查、可疑包裹排查等。山西實(shí)時(shí)成像平板探測(cè)器

將閃爍體產(chǎn)生的可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的方式也會(huì)對(duì)DQE產(chǎn)生影響。在碘化銫(或者硫氧化釓)薄膜晶體管這種結(jié)構(gòu)的平板探測(cè)器中，因?yàn)門(mén)FT的陣列可以做成與閃爍體涂層的面積一樣大，所以可見(jiàn)光不需要經(jīng)過(guò)透鏡折射就可以投射到TFT上，沒(méi)有光子損失，所以DQE也比較高。在非晶硒平板探測(cè)器中，X線轉(zhuǎn)換成電信號(hào)完全依賴于非晶硒層產(chǎn)生的電子空穴對(duì)，DQE的高低取決于非晶硒層產(chǎn)生電荷能力?？偟恼f(shuō)來(lái)，CsI TFT這種結(jié)構(gòu)的間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限D(zhuǎn)QE高于a-Se直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限D(zhuǎn)QE。四川乳腺平板探測(cè)器通過(guò)測(cè)量暗場(chǎng)的大小，可以獲得X射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)的信息。

CT是影像設(shè)備家族的一員，英文全稱是Computed Tomography，中文名是計(jì)算機(jī)斷層掃描。所謂“斷層”，通俗來(lái)說(shuō)是橫截面。X射線就像是CT的這把隱形刀，射線穿過(guò)人體之后，由于人體不同結(jié)構(gòu)的密度不同，對(duì)射線的衰減程度不同，使得穿過(guò)人體射線的強(qiáng)度出現(xiàn)了差異，借助探測(cè)器進(jìn)行探測(cè)X射線信號(hào)，通過(guò)圖像重建得到橫斷面的影像。從上述的描述中可以看出，在硬件組成方面，CT的主要部件也是X線球管和探測(cè)器，X線球管和探測(cè)器位于環(huán)形機(jī)架上。與DR不同的是，CT使用的不是平板探測(cè)器，而是弧形的線探測(cè)器（寬度較窄），之所以要用這種探測(cè)器，主要因?yàn)镃T使用的射線束是扇形束（DR使用的是錐形束）。對(duì)于探測(cè)器的材質(zhì)，主要分為固體探測(cè)器和氣體探測(cè)器。

X射線管包含有陽(yáng)極和陰極兩個(gè)電極，分別用于接受電子轟擊的靶材和發(fā)射電子的燈絲。兩極均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內(nèi)。X射線管供電部分至少包含有一個(gè)使燈絲加熱的低壓電源和一個(gè)給兩極施加高電壓的高壓發(fā)生器。當(dāng)鎢絲通過(guò)足夠的電流使其產(chǎn)生電子云，且有足夠的電壓（千伏等級(jí)）加在陽(yáng)極和陰極間，使得電子云被拉往陽(yáng)極。此時(shí)電子以高能高速的狀態(tài)撞擊鎢靶，高速電子到達(dá)靶面，運(yùn)動(dòng)突然受到阻止，其動(dòng)能的一小部分便轉(zhuǎn)化為輻射能，以X射線的形式放出，以這種形式產(chǎn)生的輻射稱為軔致輻射。分辨率高、獲取更多影像細(xì)節(jié)是數(shù)字化X線影像(DR)優(yōu)于普通放射影像的主要優(yōu)點(diǎn)。

X-RAY檢測(cè)應(yīng)用很，可用于鋰電池檢測(cè)等電池行業(yè)、電路板行業(yè)、半導(dǎo)體封裝、汽車行業(yè)、電路板組裝行業(yè)等，可用于IGBT半導(dǎo)體檢測(cè)、BGA芯片檢測(cè)、LED燈條檢測(cè)、PCB裸板檢測(cè)、鋰電池檢測(cè)、鋁鑄件無(wú)損探傷檢測(cè)。觀察和測(cè)量包裝后內(nèi)部物體的位置和形狀，并觀察內(nèi)部狀況，確認(rèn)產(chǎn)品是否合格，真正的做到無(wú)損檢測(cè)。X射線工業(yè)檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)：1、X射線成像非常直觀。2、X射線檢測(cè)作為薄壁鑄件的無(wú)損檢測(cè)具有很高的靈敏度。3、X射線測(cè)試對(duì)鑄件的表面光潔度沒(méi)有嚴(yán)格的要求。4、X射線測(cè)試結(jié)果在各種材料之間幾乎沒(méi)有差異。常用NDT方法有：超聲，射線，渦流、磁粉、滲透等。四川乳腺平板探測(cè)器

壞點(diǎn)是指對(duì)X射線強(qiáng)度不響應(yīng)或響應(yīng)不良的探測(cè)器單元。山西實(shí)時(shí)成像平板探測(cè)器

非晶硅平板探測(cè)器是間接數(shù)字化X線成像，其表面是一層閃爍體材料(碘化銫或硫氧化釓)，再下一層是以非晶體硅為材料的光電二極管電路，底層為電荷讀出電路。位于探測(cè)器表面的閃爍體將透過(guò)人體后衰減的X線轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光，非晶硅光電二極管陣列又將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，在光電二極管自身的電容上形成存儲(chǔ)電荷，每個(gè)像素的存儲(chǔ)電荷量與入射X線強(qiáng)度成正比，在控制電路的作用下，掃描讀出各個(gè)像素的存儲(chǔ)電荷，經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后輸出數(shù)字信號(hào)，傳送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理從而形成X線數(shù)字影像。山西實(shí)時(shí)成像平板探測(cè)器

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